Fe(Te,Se) 薄膜中的点接触安德烈夫反射谱：多带超导性与电子 - 玻色子耦合
超导电性
2014-12-16 v1
摘要
我们利用点接触安德烈夫反射谱 (PCARS) 研究了具有不同 Se 含量（x=0.3, 0.4, 0.5）的 Fe(TeSe) 薄膜中的超导序参量。PCARS 谱显示出可重复的多重结构证据，即两个清晰的电导极大值，对应于振幅为 的超导能隙，以及在更高能量处的附加肩峰；正如我们所展示的，这些肩峰是载流子与玻色模强烈相互作用的特征，该玻色模的特征能量与自旋共振能量一致。某些 PCARS 谱在低能区的细节表明存在一个较小且不易分辨的能隙，其振幅为 。PCARS 对 Fe(TeSe) 单晶的测量证实了该能隙的存在及其振幅。一旦将两个能隙 和 的值绘制为局部临界温度 的函数，结果表明它们与文献中各种实验技术获得的结果完全一致。
引用
@article{arxiv.1412.4667,
title = {Point-contact Andreev-reflection spectroscopy in Fe(Te,Se) films: multiband superconductivity and electron-boson coupling},
author = {D. Daghero and P. Pecchio and G. A. Ummarino and F. Nabeshima and Y. Imai and A. Maeda and I. Tsukada and S. Komiya and R. S. Gonnelli},
journal= {arXiv preprint arXiv:1412.4667},
year = {2014}
}
备注
8 pages, 6 figures. This is an author-created, un-copyedited version of an article published in Supercond. Sci. Technol. IOP Publishing Ltd is not responsible for any errors or omissions in this version of the manuscript or any version derived from it. The Version of Record is available online at 10.1088/0953-2048/27/12/124014