基于强度相关的全景显微镜与摄影
光学
2024-09-17 v1
摘要
我们提出了新的方法，通过测量光强度相关性来实现衍射极限下的全景成像。第一种方法面向全景显微镜，这是一种有前景的技术，允许后期校焦和增强深度场，同时实现扫描自由的 3D 成像。为克服标准全景显微镜的局限性，我们将相关全景成像（CPI）方法适用于显微镜的工作条件。我们考虑并比较了不同类型的 CPI 显微镜体系结构，讨论了其对样品周围湍流的改进鲁棒性。第二种方法基于测量两个参考平面之间的相关性，这两个参考平面可在感兴趣的三维场景中任意选择，提供了前所未有的图像分辨率与深度场的组合。结果为 CPI 设备的紧凑型设计指明了方向。
引用
@article{arxiv.2409.09456,
title = {Plenoptic microscopy and photography from intensity correlations},
author = {Francesco V. Pepe and Francesco Di Lena and Augusto Garuccio and Davide Giannella and Alessandro Lupo and Gianlorenzo Massaro and Alessio Scagliola and Francesco Scattarella and Sergii Vasiukov and Milena D'Angelo},
journal= {arXiv preprint arXiv:2409.09456},
year = {2024}
}
备注
8 pages, 2 figures. arXiv admin note: text overlap with arXiv:2007.12033