通过 K 壳层线发射观察中等电荷离子的等离子体屏蔽
等离子体物理
2025-10-16 v3
摘要
致密等离子体环境通过微观电场的变化影响离子的电子结构，这也被称为等离子体屏蔽。这种效应可以通过简化的解析模型来估计，也可以通过计算成本高昂且迄今为止尚未经实验验证的数值计算来估计。我们通过 X 射线自由电子激光 (XFEL) 驱动的物质中束缚-束缚跃迁的能移，实验量化了等离子体屏蔽。这是通过对观察到的 K、K 和 K 谱线的详细电子组态的识别来实现的。这项工作为改进等离子体屏蔽模型铺平了道路，包括电离势降低和连续态降低等相关效应，这将增进对温致密物质状态下原子物理的理解。
引用
@article{arxiv.2406.06233,
title = {Plasma screening in mid-charged ions observed by K-shell line emission},
author = {M. Šmıd and O. Humphries and C. Baehtz and V. Bouffetier and E. Brambrink and T. Burian and V. Cerantola and M. S. Cho and T. E. Cowan and L. Gaus and M. F. Gu and V. Hájková and L. Juha and J. Kaa and Z. Konopkova and H. P. Le and M. Makita and X. Pan and T. Preston and A. Schropp and J. P. Schwinkendorf and H. A. Scott and R. Štefanıková and J. Vorberger and W. Wang and U. Zastrau and K. Falk},
journal= {arXiv preprint arXiv:2406.06233},
year = {2025}
}