电弱多重态中迭代极点质量计算的陷阱

电弱多重态各分量之间辐射诱导的质量劈裂通常为 100 MeV 量级。这足以赋予带电分量宏观可观测的寿命，并确保存在电中性的暗物质粒子。我们表明，在相同圈阶下，用于计算辐射修正极点质量的常用迭代程序可能导致与非迭代计算截然不同的质量劈裂。通过估计两种单圈结果的误差，我们表明迭代程序对重整化标度和规范参数选择的敏感性远高于非迭代方法。如果采用迭代法，这可能导致带电分量的寿命产生高达 12 个数量级的变化。我们证明，无论采用何种程序，单个极点质量均表现出相似的标度依赖性；但当且仅当采用非迭代程序计算质量劈裂时，主导的标度依赖项会相互抵消。我们证明这种行为在双圈阶依然存在：非迭代方法中质量劈裂的精度有所提高，但我们的结果表明，高阶修正不足以将迭代计算中的不确定性降低到足以在双圈阶解决该问题的程度。我们得出结论，在电弱质量劈裂具有唯象相关性的情形下，不应使用迭代程序计算极点质量。