mu+mu- Higgs 工厂的物理机遇

C. Blöchinger; M. Carena; J. Ellis; H. Fraas; F. Franke; D. Garcia; S. Heinemeyer; S. Kraml; G. Moortgat-Pick; W. Murray; F. von der Pahlen; A. Pilaftsis; C. E. M. Wagner; G. Weiglein

mu+mu- Higgs 工厂的物理机遇

高能物理 - 唯象学 2007-05-23 v1

作者: C. Blöchinger , M. Carena , J. Ellis , H. Fraas , F. Franke , D. Garcia , S. Heinemeyer , S. Kraml , G. Moortgat-Pick , W. Murray , F. von der Pahlen , A. Pilaftsis , C. E. M. Wagner , G. Weiglein

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摘要

我们更新了关于 mu+mu- Higgs 工厂所呈现的物理机遇的理论研究。如果 Higgs 质量小于约 160 GeV（正如精确电弱数据所偏好），则对 Standard Model Higgs 衰变至 {\bar b}b、tau+tau- 和 WW* 的有趣测量可能是可行的，并且通过适当改变束流能量分辨率可以扩展该质量范围。束流能量分辨率的合适值也将使 b 夸克质量的不确定性最小化，从而便于在首个 mu+mu- Higgs 工厂上测量 MSSM 中的参数。这些测量将对 Higgs-费米子-反费米子衰变顶点的辐射修正敏感，而这些辐射修正可能破坏 CP。MSSM 中的辐射修正也可能在 Higgs 质量混合中诱发 CP 破坏，这可以通过使用极化 mu+mu- 束流测量的各种不对称性来探测。此外，Higgs-chargino 耦合可以在第二个 mu+mu- Higgs 工厂上进行探测。

关键词

Higgs 工厂 mu+mu- 对撞机 Standard Model Higgs MSSM CP 破坏束流能量分辨率辐射修正

引用

@article{arxiv.hep-ph/0202199,
  title  = {Physics Opportunities at mu+mu- Higgs Factories},
  author = {C. Blöchinger and M. Carena and J. Ellis and H. Fraas and F. Franke and D. Garcia and S. Heinemeyer and S. Kraml and G. Moortgat-Pick and W. Murray and F. von der Pahlen and A. Pilaftsis and C. E. M. Wagner and G. Weiglein},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ph/0202199},
  year   = {2007}
}

备注

Report of the Higgs factory working group of the ECFA-CERN study on Neutrino Factory & Muon Storage Rings at CERN. 28 pp

mu+mu- Higgs 工厂的物理机遇

摘要

关键词

引用

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