多端口导体中的光子辅助电子-空穴散射噪声
介观与纳米尺度物理
2007-05-23 v2
摘要
受L.-H. Reydellet等人于2003年发表于Phys. Rev. Lett. 90, 176803的实验启发，我们讨论了光子辅助散射噪声在介观多探针导体中的解释，基于电子-空穴对激发。对样本的接触施加交交交替电压。值得注意的是，由于电子和空穴以对形式发生，相关性是由此产生的。我们指出，对于施加于不同接触的两个相等幅度和频率的互相反相交交交替电压，可以在四探针导体中追踪出Hanbury Brown Twiss交换干涉相关性。我们计算了四探针单通道混沌点阵的Hanbury Brown Twiss相位分布。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0507276,
title = {Photon-assisted electron-hole shot noise in multi-terminal conductors},
author = {Valentin S. Rychkov and M. L. Polianski and M. Buttiker},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0507276},
year = {2007}
}
备注
10 pages, 4 figures. v2: minor changes, refences updated