用于二氧化钛表面结构识别的光电子能谱指纹
材料科学
2018-05-29 v1
摘要
二氧化钛丰富的性质依赖于其多种多晶型及其混合物，并耦合于对晶体取向的敏感性。因此，建立允许表面结构识别的方法至关重要。本文中我们展示了光电子能谱提供 Ti LMV（V = 价带）俄歇模板以定量分析 TiO 多晶型的能力。Ti LMV 衰变反映了 Ti 4sp-O 2p 杂化，这是 TiO 相与取向的固有属性。在金红石 (110)、锐钛矿 (101) 与 (100) 单晶上收集的 Ti LMV 模板允许对混合纳米粉末进行定量分析，从而弥合了参考表面与复杂材料之间的鸿沟。作为测试平台，对锐钛矿/金红石 P25 在接收态以及退火过程中锐钛矿到金红石的转变进行了研究。与 X 射线衍射测量的一致证明了俄歇分析的可靠性，并突显了其检测表面取向的能力。
引用
@article{arxiv.1805.10605,
title = {Photoemission Fingerprints for Structural Identification of Titanium Dioxide Surfaces},
author = {Patrizia Borghetti and Elisa Meriggio and Gwenaëlle Rousse and Gregory Cabailh and Rémi Lazzari and Jacques Jupille},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.10605},
year = {2018}
}