基于硅光子芯片的环形谐振器光子对源联合谱层析相位分辨测量
量子物理
2020-04-22 v1 光学
摘要
光子量子技术的指数级增长正推动对其信息载体质量测量工具的需求。其中最突出的之一是受激辐射层析（SET），它利用经典相干场以高速和高分辨率测量光子对的联合谱振幅（JSA）。虽然 JSA 的模可由单次强度测量直接获取，但联合谱相位（JSP）的提取要困难得多且受到的关注较少。然而，一类具有技术相关性的广泛自发源，如芯片集成微谐振器，其 JSP 具有丰富的结构，携带着隐藏在强度域中的关联。在此，我们利用紧凑且可重构的硅光子芯片，首次测量了微环形谐振器光子对源的复 JSA。该光子电路相干地激发环形波导与参考波导，并由其受激场形成的干涉图通过一种新颖的相位重建技术来映射环形 JSP。该工具补充了迄今所实现的传统笨重而复杂的方法，同时使所需资源集最小化。
引用
@article{arxiv.2001.02901,
title = {Phase resolved joint spectra tomography of a ring resonator photon pair source using a silicon photonic chip},
author = {Massimo Borghi},
journal= {arXiv preprint arXiv:2001.02901},
year = {2020}
}