利用扫描透射 X 射线显微镜对边缘模自旋波进行相位分辨成像
材料科学
2016-10-04 v2
摘要
我们利用时间分辨扫描透射 X 射线显微镜 (STXM)，在 2 GHz 频率和 70 nm 分辨率下，对局域在纳米级 NiFe 椭圆顶点附近 100 nm 范围内的小振幅自旋波本征模激发进行了成像。利用 STXM 对埋层的敏感性，我们发现，在椭圆上方沉积有导电层和没有导电层的样品中，两个顶点处的磁化进动主要从同相变为反相。作为对相位反转的一种合理解释，我们提出在不连续覆盖层中产生了意想不到的强 Oersted 场，尽管不能完全排除边缘粗糙度的影响。结果证明了 STXM 对小振幅、GHz 磁化动力学进行成像的能力，并具有在纳米尺度映射射频磁场的潜力。
引用
@article{arxiv.1404.6350,
title = {Phase-resolved imaging of edge-mode spin waves using scanning transmission x-ray microscopy},
author = {Cheng Cheng and William E. Bailey},
journal= {arXiv preprint arXiv:1404.6350},
year = {2016}
}