盖革模式雪崩光电二极管在低温下的性能退化
仪器与探测器
2014-08-20 v1
摘要
两相低温雪崩探测器(CRAD)与THGEM倍增器，用盖革模式APD(GAPD)光学读出，被提议作为稀有事件实验中电荷记录的技术。本文报告了在氩气中研究两相CRAD时，结合THGEM/GAPD矩阵倍增器，在低温下GAPD性能退化的情况；GAPD记录了THGEM孔中近红外二次闪烁光子。退化效应，即GAPD脉冲幅度损失，取决于入射X射线光子通量。在87K下，4.4 mm² GAPD上产生的光电子临界计数率估计为每秒10000，导致性能退化。该效应是由于这种CPTA制造的GAPD类型的像素淬灭电阻显著增加所致。虽然不影响低速率稀有事件实验，但观察到的效应可能对基于GAPD光学读出的CRAD在较高速率应用中的性能施加一些限制。
引用
@article{arxiv.1406.4633,
title = {Performance degradation of Geiger-mode APDs at cryogenic temperatures},
author = {A. Bondar and A. Buzulutskov and A. Dolgov and L. Shekhtman and E. Shemyakina and A. Sokolov and A. Breskin and D. Thers},
journal= {arXiv preprint arXiv:1406.4633},
year = {2014}
}
备注
11 pages, 9 figures. Submitted to JINST