PdBI 亚角秒研究 HH212 中的 SiO 微喷流——0 类喷流的起源与准直
天体物理学
2009-11-13 v1
摘要
利用 Plateau de Bure 干涉仪(PdBI)扩展配置对双极 HH 212 外流进行了 SiO 成像，揭示了一条与 H2 喷流成分紧密关联的高度准直的 SiO 喷流。我们以前所未有的分辨率（沿喷流轴 0.34 角秒）研究了该年轻 0 类源附近 1000 AU 范围内的最内层 SiO「微喷流」的性质，将其与演化程度更高的源的原子微喷流进行比较，并约束其起源。SiO 通道图被用于研究微喷流的准直和速度结构。对 PdBI 和亚毫米波阵列的 SiO (2-1)、(5-4) 和 (8-7) 数据应用大速度梯度分析，以约束 SiO 的不透明度和丰度。HH212 0 类微喷流在准直性和能量预算方面与 T Tauri 源的原子微喷流表现出显著相似性。此外，SiO 谱线呈现光学厚特征，这与一般假设不同。我们推断 T(kin) ≈ 50–500 K，SiO/H2 丰度大于 4×10⁻⁸–6×10⁻⁵（对于 n(H₂) = 10⁷–10⁵ cm⁻³），即元素硅的 0.05%–90%。这种相似的喷流宽度，无论是否存在致密包层，都明确排除了外部压力对喷流准直的作用，并支持在恒星形成的所有阶段存在共同的磁流体动力学(MHD)自准直（及可能的加速）过程。我们提出，0 类喷流中更丰富的 SiO 主要可能源于高喷流密度下快速（小于 25 年）的分子合成。
引用
@article{arxiv.0704.2685,
title = {PdBI sub-arcsecond study of the SiO microjet in HH212 - Origin and collimation of Class 0 jets},
author = {S. Cabrit and C. Codella and F. Gueth and B. Nisini and A. Gusdorf and C. Dougados and F. Bacciotti},
journal= {arXiv preprint arXiv:0704.2685},
year = {2009}
}