斯皮策探测到的Class 0源原子喷流：L1448-C案例

我们展示了沿Class 0源L1448-C（或L1448-mm）分子喷流获得的斯皮策-IRS光谱。检测到了[FeII]、[SiII]和[SI]基态跃迁的原子谱线，首次揭示了低激发态下嵌入原子喷流的存在。还检测到了纯转动H$_2$谱线，并在距驱动源1角分范围内观测到原子/分子发射比下降。为进一步约束沿喷流轴的H$_2$激发条件，我们获取了额外地面光谱（UKIRT/UIST），并结合0-0谱线与弓激波模型进行了比较。根据不同的谱线比，我们发现原子气体的电子密度n_e ~ 200-1000 cm^{-3}，温度T_e < 2500 K，电离分数<~ 10^{-2}；因此原子喷流的激发条件与演化程度更高的Class I和Class II喷流截然不同。我们还推断出只有一部分（0.05-0.2）的Fe和Si以气态形式存在，表明尘埃在难熔元素的耗竭中仍起主要作用。与近期通过分析多个SiO亚毫米跃迁得出的喷流中SiO丰度比较显示，Si/SiO丰度比约为100，因此通过溅射和颗粒碰撞从尘埃中释放的大部分硅仍以原子形式存在。最后，我们估算了原子和分子质量流率：根据[SI]25μm和H$_2$谱线光度分别推断出约10$^{-6}$和10$^{-7}$ M$_{\sun}$ yr$^{-1}$的量级。与CO分子外流的动量通量比较表明，探测到的原子喷流有能力驱动大尺度外流。