Belle-II iTOP 探测器的粒子鉴别
仪器与探测器
2013-10-18 v1 高能物理 - 实验
摘要
Belle-II 实验和 superKEKB 加速器将在 KEK 构成一个下一代 B 工厂，其瞬时亮度能够达到比 Belle 探测器和 KEKB 高 40 倍的运行水平。这将允许通过对其参数进行精确测量来阐明标准模型的许多方面，并对目前无法探测的许多稀有衰变提供灵敏度。这需要对加速器和探测器子系统进行重大升级。成像飞行时间 探测器将是 Belle-II 的一个新子探测器，将在粒子鉴别 (PID) 中发挥不可或缺的作用。它将位于径迹探测器和量能器之间，由 16 个模块组成；每个模块包含一个长度约为 2.5m 的石英辐射体，配备由 32 个微通道板光电探测器 (MCP-PMTs) 组成的阵列。带电粒子穿过石英时会产生切伦科夫光锥，沿石英长度传播，并被 MCP-PMTs 探测到。iTOP 系统卓越的空间和时间分辨率（50 皮秒）将提供出色的粒子鉴别能力，特别是能够增强 介子和 介子之间的区分能力，这对于将要进行的许多关键测量至关重要。将介绍 iTOP 子探测器的建造状态以及束流测试中原型机的性能研究，同时介绍将利用 iTOP 系统的 PID 能力进行的物理测量前景。
引用
@article{arxiv.1310.4542,
title = {Particle identification with the iTOP detector at Belle-II},
author = {Matthew Barrett},
journal= {arXiv preprint arXiv:1310.4542},
year = {2013}
}
备注
Presentation at the DPF 2013 Meeting of the American Physical Society Division of Particles and Fields, Santa Cruz, California, August 13-17, 2013