强透镜系统中的宇称依赖性作为暗物质子结构的探针
天体物理学
2009-11-13 v1
摘要
星系内小尺度暗物质团块(子结构)的质量是冷暗物质的一个重要检验。测量子结构质量分数的一种方法是分析被星系强透镜化的像的通量。相对于平滑(无子结构)模型异常的像间通量比先前表明,子结构的数量比暗物质模拟中发现的更多。异常通量比的一个度量是宇称依赖性——源的不同像的通量受到不同的扰动。在本文中,我们讨论了宇称依赖性作为暗物质子结构的探针。我们发现,重现观测到的宇称依赖性需要致密暗物质团块与像之间存在显著的对齐。这些结果可能意味着子结构中的质量分数比某些暗物质模拟所建议的更大,并且观测到的宇称依赖性不太可能由透镜星系的发光卫星所重现。
引用
@article{arxiv.0810.2036,
title = {Parity Dependence in Strong Lens Systems as a Probe of Dark Matter Substructure},
author = {Jacqueline Chen},
journal= {arXiv preprint arXiv:0810.2036},
year = {2009}
}
备注
12 pages, 12 figures, submitted to A&A