零差干涉测量中的寄生干涉
天体物理仪器与方法
2013-05-29 v1
摘要
零差干涉测量旨在探测亮星附近的暗弱天体。其原理是沿视线方向产生相消干涉,从而抑制恒星通量,同时传输离轴源的通量。在实践中,各种仪器扰动会降低零差性能。相位、振幅或偏振的任何不完美都会产生杂散通量,泄漏至干涉仪输出端并污染传输的离轴通量。其中一种仪器扰动是串扰现象,它由透射光学元件内的多次寄生反射和/或与有限尺寸光学元件中光束传播相关的衍射效应引起。它可能包括光束与自身的串扰,以及不同光束之间的相互串扰。这会产生寄生干涉图样,从而降低干涉仪的固有透射图(或强度响应)。在此背景下,我们描述了这种仪器效应如何损害 Bracewell 干涉仪的性能。我们建立了一个简单的形式体系,以推导干涉仪相应的修正强度响应,该响应是两个关键参数的函数:串扰水平(或污染率)以及主光束与次级(寄生)光束之间的相移。随后,我们将此数学方法应用于若干科学案例,既进行了分析推导,也使用了适配处理相干串扰的 GENIEsim 模拟软件。结果表明,约 1% 的相干串扰水平最多会导致信噪比 (SNR) 下降 20%。因此,应仔细注意降低干涉仪器内部的串扰水平,并确保仪器稳定性,以便通过校准程序提供必要的灵敏度。
引用
@article{arxiv.1305.6459,
title = {Parasitic interference in nulling interferometry},
author = {Alexis Matter and Denis Defrère and William C. Danchi and Bruno Lopez and Olivier Absil},
journal= {arXiv preprint arXiv:1305.6459},
year = {2013}
}
备注
10 pages, 7 figures