圆柱形磁屏蔽端盖密封的重叠技术
仪器与探测器
2013-07-04 v1
摘要
我们展示了关于重叠技术在圆柱形磁屏蔽与端盖边界处的间隙形成磁密封有效性的研究结果。在该技术中，一片薄磁性箔材重叠在两个表面上，从而跨越圆柱体和端盖之间的间隙，磁密封随后通过将薄磁性箔材夹紧在间隙两侧的圆柱形屏蔽和端盖表面而形成。在使用原型（直径 31 cm、长 91 cm、厚 0.16 cm 的圆柱形磁屏蔽和喇叭口端盖）进行的研究中，我们重叠技术的磁屏蔽性能与常规方法相当，常规方法是通过贯穿螺栓或螺钉将端盖与圆柱形屏蔽直接磨合接触。
引用
@article{arxiv.1307.0866,
title = {Overlap Technique for End-Cap Seals on Cylindrical Magnetic Shields},
author = {S. Malkowski and R. Y. Adhikari and J. Boissevain and C. Daurer and B. W. Filippone and B. Hona and B. Plaster and D. Woods and H. Yan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1307.0866},
year = {2013}
}
备注
4 pages, 5 figures