Ice Ih 中的取向缺陷：电导率测量的解释
材料科学
2009-11-11 v1
摘要
我们对 Ice Ih 中 Bjerrum 缺陷的结构和能量进行了第一性原理研究，并将结果与实验电导率数据进行了比较。虽然 DFT 得出的活化能与实验吻合良好，但我们发现其两个分量具有截然不同的值。除了为冰的微观电学理论基本参数提供新见解外，我们的结果表明，在通常假定由 L 缺陷自由迁移控制的温度范围内，掺杂冰中存在陷阱活性。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0512401,
title = {Orientational Defects in Ice Ih: An Interpretation of Electrical Conductivity Measurements},
author = {Maurice de Koning and Alex Antonelli and Antonio J. R. da Silva and A. Fazzio},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0512401},
year = {2009}
}
备注
4 pages, 4 Figures, 1 Table