论金属三层膜中层间交换耦合温度依赖性的起源
强关联电子
2007-05-23 v1
摘要
我们研究了集体磁激发对金属多层膜中层间交换耦合（IEC）的影响。结果与其他模型进行了比较，这些模型通过多层膜间隔层或界面处的机制来解释IEC的温度依赖性。作为主要结果，我们发现所有模型中IEC随温度降低的规律表现出 practically 相同的函数依赖关系。另一方面，间隔层厚度、磁性材料以及外场的影响则截然不同。基于这些考虑，我们提出了一些实验，能够确定在有限温度下降低IEC的主导机制。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0404700,
title = {On the origin of temperature dependence of interlayer exchange coupling in metallic trilayers},
author = {S. Schwieger and W. Nolting},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0404700},
year = {2007}
}
备注
8 pages, 7 figures, accepted for PRB