利用随机表面纳米颗粒阵列指纹识别实现片上光谱偏振测量
光学
2017-09-25 v1
摘要
光学超表面通过实现对光的相位、动量、振幅和偏振的同时控制，彻底改变了光传播的调控方式。因此，通过对不同衍射光束进行并行强度测量，瞬时光谱偏振测量成为可能。这一非常重要功能的各种实现都有一个共同特征——波长的确定利用了衍射角的色散，这需要在空间中追踪衍射光束。因此，片上光谱偏振测量的实现需要概念上不同的方法。在本文中，我们证明了金属表面上的随机纳米颗粒阵列能够实现表面等离激元极化激元的强多重散射，在光照下产生复杂的 SPP 散射图样，其角谱由光的偏振和波长唯一确定，从而表现为光谱偏振指纹。利用在金膜上制备的微米级随机分布金纳米颗粒圆形阵列（密度约 75 m），我们使用泄漏辐射显微镜测量了散射 SPP 波的角分布，并发现对于波长和/或偏振不同的正入射光束，所获得的角向 SPP 谱存在显著差异。我们的方法允许利用通过简单一步电子束光刻制备的表面纳米结构进行指纹识别，从而实现片上光谱偏振测量。
引用
@article{arxiv.1709.07617,
title = {On-chip spectropolarimetry by fingerprinting with random surface arrays of nanoparticles},
author = {Yiting Chen and Fei Ding and Victor Coello and Sergey I. Bozhevolnyi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1709.07617},
year = {2017}
}
备注
22 pages, 5 figures