谷霍尔光子拓扑界面模式中的强背散射观测

光的独特性质支撑着光子量子技术、光互连及广泛新型传感器的愿景，但当今一个关键限制因素是由吸收或缺陷处背散射导致的损耗。拓扑光子学近期的发展催生了由拓扑界面模式构成的背散射保护波导的愿景，但令人惊讶的是，迄今对其传播损耗的测量尚付阙如。本文报道了谷霍尔拓扑波导慢光区损耗的测量，未发现针对普遍结构缺陷背散射的拓扑保护迹象。我们对从拓扑波导散射出的光进行成像，发现传播损耗源于 Anderson 局域化。在光学域无本征吸收材料中，唯一被提出的光子拓扑波导是量子自旋霍尔与谷霍尔界面态，但前者表现出强烈的面外损耗，因此我们的工作对互易光子学中拓扑保护的实际价值提出了根本性疑问。