安德烈夫反射增强散粒噪声的观测
超导电性
2016-08-31 v1
摘要
我们实验研究了 NbN/MgO/NbN 超导体-绝缘体-超导体隧道结中的准粒子散粒噪声。观察到的散粒噪声显著大于理论预期。我们将其归因于 MgO 势垒中针孔内发生的多次安德烈夫反射过程。这种机制导致电流以大的电荷量子（安德烈夫团簇）流动，其电压依赖的平均值为 m = 1 + 2Δ/eV 乘以电子电荷。由于这种电荷增强效应，散粒噪声增加了因子 m。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9709030,
title = {Observation of Andreev Reflection Enhanced Shot Noise},
author = {P. Dieleman and H. G. Bukkems and T. M. Klapwijk and M. Schicke and K. H. Gundlach},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9709030},
year = {2016}
}
备注
4 pages, 5 figures included