比特图形化磁记录写头几何结构的数值优化
计算物理
2015-04-15 v1
摘要
提出了一种全自动极尖形状优化工具，涉及写头几何构建、网格划分、微磁模拟与评估。针对底层比特图形化介质（面密度为 2.12 Tdots/in）的三种不同写入方案（居中、交错和瓦状）进行了优化。优化针对厚度为 10 nm、磁间距为 8 nm 的单相介质进行。根据计算得到的写入场及其梯度，以及相邻磁道上岛状结构在写入过程中的最小能垒，计算出总体写入错误率。居中写入、交错写入和瓦状写入的总体写入错误率分别为 0.7、0.08 和 2.8 x 10。
引用
@article{arxiv.1504.03577,
title = {Numerical optimization of writer geometries for bit patterned magnetic recording},
author = {A. Kovacs and H. Oezelt and S. Bance and J. Fischbacher and M. Gusenbauer and F. Reichel and L. Exl and T. Schrefl and M. E. Schabes},
journal= {arXiv preprint arXiv:1504.03577},
year = {2015}
}