纳米结构磁性质的数值计算

磁力显微镜和扫描隧道显微镜数据可用于测试磁性的计算机数值模型。基于扫描显微镜获得的磁纳米结构图像中的像素分布，我们建立了面心晶格伊辛自旋的精细数值模型。磁结构模型的蒙特卡洛模拟允许确定磁化强度与温度的依赖关系；并根据实验条件计算亚单层和单层钴纳米膜的磁滞回线以及磁化分布。我们开发的超级计算机并行软件包用于磁力学实验的数值模拟，并允许在其基础上获得纳米点一维阵列的磁化分布。已经确定了磁纳米点状态的磁力显微镜图像的解释。超级计算机模拟和数值计算的结果与实验数据吻合良好。