电子掺杂 Pr2-xCexCuO4 的正常态 Nernst 效应：超导涨落与双带输运
超导电性
2009-11-13 v2 强关联电子
摘要
我们报告了对电子掺杂铜氧化物 PrCeCuO 在宽掺杂范围（0.050.21）和温度范围内正常态 Nernst 效应的系统研究。在低温下，我们在欠掺杂薄膜中观察到高于 T 的显著涡旋 Nernst 信号，但在过掺杂区域未发现此类正常态涡旋 Nernst 信号。欠掺杂区域的超导涨落最可能如同在空穴掺杂铜氧化物中发现的那样，属于非相干相位涨落。在高温下，在从轻微欠掺杂到高度过掺杂的范围内发现了巨大的正常态 Nernst 信号。结合正常态热电势、霍尔效应和磁阻测量，该巨大的 Nernst 效应与双带模型相容。对于高度过掺杂薄膜，巨大的 Nernst 效应是反常的，无法用光电子能谱实验中观察到的简单空穴型费米面来解释。
引用
@article{arxiv.0708.1018,
title = {Normal State Nernst Effect in Electron-doped Pr2-xCexCuO4: Superconducting Fluctuations and Two-band Transport},
author = {Pengcheng Li and R. L. Greene},
journal= {arXiv preprint arXiv:0708.1018},
year = {2009}
}
备注
9 pages, 8 figures, accepted in PRB