利用石英晶体微天平研究Ge33Se67薄膜的NO2气体吸附
无序系统与神经网络
2012-09-11 v2 材料科学
摘要
本文研究了涂有非晶Ge33Se67的石英晶体微天平（QCM）对NO2气体的吸附能力。在NO2吸附/解吸过程前后，通过能量色散X射线光谱（EDS）、掠角X射线衍射（GAXRD）、拉曼光谱、X射线光电子能谱（XPS）和原子力显微镜（AFM）测量对薄膜进行了表征。这些研究表明，当NO2气体分子被引入硫族化物薄膜时发生物理吸附，且薄膜的成分或结构没有发生变化。由谐振器的频移计算了NO2气体吸附引起的质量负载。在我们的实验条件下，在5000 ppm NO2浓度下，高达6.8 ng的气体被吸附到200 nm厚的Ge33Se67薄膜中。已证实气体分子吸附过程是可逆的。
引用
@article{arxiv.1204.0444,
title = {NO2 Gas Sorption Studies of Ge33Se67 Films Using Quartz Crystal Microbalance},
author = {Velichka Georgieva and Maria Mitkova and Ping Chen and Dmitri Tenne and Kasandra Wolf and Victoria Gadjanova},
journal= {arXiv preprint arXiv:1204.0444},
year = {2012}
}