利用116CdWO4闪烁体研究116Cd双β衰变的新结果
核实验
2008-11-26 v2
摘要
116Cd双β衰变实验的新阶段正在索洛特维纳地下实验室进行。实验装置中使用四块总质量为339克、富集116Cd的CdWO4闪烁体，其主动屏蔽由15块天然CdWO4晶体（20.6千克）构成。在2.5-3.2 MeV能量区间内的本底率为0.03计数/年·千克·千电子伏。116Cd的双中微子双β衰变半衰期测得为T{1/2}(双中微子) = [2.6±0.1(统计)-0.4+0.7(系统)]×10**19年。116Cd无中微子双β衰变至116Sn基态的T{1/2}下限设为T{1/2} ≥ 0.7(2.5)×10**23年（90%（68%）置信水平），而衰变至116Sn第一2+和第一0+激发态的T{1/2}下限分别为T{1/2}≥1.3(4.8)×10**22年和≥0.7(2.4)×10**22年（90%（68%）置信水平）。对于发射一个或两个马约朗子的无中微子双β衰变，其下限为T{1/2}(无中微子M1) ≥3.7(5.8)×10**21年和T{1/2}(无中微子M2)≥5.9(9.4)×10**20年（90%（68%）置信水平）。由此推导出的中微子质量、弱相互作用中的右手混合以及中微子-马约朗子耦合常数的限制分别为：m(中微子)≤2.6(1.4) eV，η ≤3.9×10**-8，λ ≤3.4×10**-6，以及g{M}≤ 12(9.5)×10**-5（90%（68%）置信水平）。
引用
@article{arxiv.nucl-ex/0003001,
title = {New results of 116Cd double beta decay study with 116CdWO4 scintillators},
author = {F. A. Danevich and A. Sh. Georgadze and V. V. Kobychev and B. N. Kropivyansky and A. S. Nikolaiko and O. A. Ponkratenko and V. I. Tretyak and S. Yu. Zdesenko and Yu. G. Zdesenko and P. G. Bizzeti and T. F. Fazzini and P. R. Maurenzig},
journal= {arXiv preprint arXiv:nucl-ex/0003001},
year = {2008}
}
备注
28 pages, 9 figures (LaTeX). Phys. Rev. C (in press)