硅玻璃中中子诱导的乳浊现象

分析沿光纤长度的光散射强度分布，这种散射在核反应堆中对光时域反射测量仪（OTDR）进行测量，用于在光纤辐照期间及辐照后。OTDR痕迹证明包含两种分量，分别与辐射引起的衰减（RIA）或亥姆霍兹散射系数（RSC）变化相关。对于快速中子辐照的第一个阶段中的RSC增益效应，认为其类似于液体-气相相变临界点处已知的临界乳浊现象。就此原因，由于快速中子辐照引起的RSC增益可称为中子诱导的乳浊（NIO）。