范德瓦尔斯晶体的近场折射测量
介观与纳米尺度物理
2025-07-21 v3 光学
摘要
测量折射率的常用技术，如椭偏法和测角法，对于范德瓦尔斯晶体薄片是无效的，因为它们具有高各向异性和微米级的小横向尺寸。为了解决这个问题，我们采用近场光学显微镜来分析这些晶体内部的导波光学模式。通过在 波长下以亚波长空间分辨率探测MoS 薄片中的这些模式，我们确定了MoS 的面内和面外介电常数分量分别为 和 ，相对不确定度低于 ，同时克服了传统方法的局限性。
引用
@article{arxiv.2411.07926,
title = {Near-field refractometry of van der Waals crystals},
author = {Martin Nørgaard and Torgom Yezekyan and Stefan Rolfs and Christian Frydendahl and N. Asger Mortensen and Vladimir A. Zenin},
journal= {arXiv preprint arXiv:2411.07926},
year = {2025}
}