窄带 X 射线测光作为研究星系和星系团质量分布的工具
宇宙学与河外天体物理
2015-06-17 v1
摘要
我们探讨了窄带 X 射线表面测光作为一种工具，用于对星系团、星系群和早型星系进行完全贝叶斯流体静力学质量测量的效用。我们证明，仅使用 Chandra X 射线天文台在三个（静止系）波段（0.5--0.9 keV、0.9--2.0 keV 和 2.0--7.0 keV）测量表面测光，就足以限制热星际介质（ISM）的温度、密度和丰度。通过采用质量分布和径向熵剖面的参数化模型并假设球对称性，我们表明，通过同时拟合所有三个波段的数据所获得的对 ISM 质量和热力学性质的约束，与通常做法中通过将类似模型拟合到空间分辨光谱导出的温度和密度剖面所获得的约束相当。我们证明，当利用最近推导出的大尺度上气体分数与熵剖面之间的经验关系时，约束可以显著收紧，从而消除了大半径处的任意外推。这种“标度绝热模型”（ScAM）非常适合信噪比适中的数据，我们表明，即使将其用于拟合非常浅的快照 X 射线观测数据，也能推断出准确、精确的全局系统性质。该模型明确定义的渐近行为也使其非常适合用于星系团的 Sunyaev-Zeldovich 研究。
引用
@article{arxiv.1310.6373,
title = {Narrow Band X-ray Photometry as a Tool for Studying Galaxy and Cluster Mass Distributions},
author = {Philip J. Humphrey and David A. Buote},
journal= {arXiv preprint arXiv:1310.6373},
year = {2015}
}
备注
15 pages, 6 figures. Accepted for Publication in MNRAS