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通过谱线叠加的多线塞曼特征

太阳与恒星天体物理 2015-05-13 v1 天体物理仪器与方法

摘要

为了在磁星的偏振光谱中获得显著的塞曼特征,我们通常“叠加”众多谱线的贡献;最终目标是恢复这些谱线叠加中磁场的谱偏振印记。在此,我们希望阐明这些谱线叠加技术的含义;特别是,我们试图解释在此过程中形成的“伪谱线”的含义,并找出其塞曼特征为何以及如何仍然有意义。我们创建了一个谱线叠加的合成案例,并应用了在我们最近的恒星磁性研究中常规使用的、经过验证的标准太阳方法。结果令人信服,塞曼特征被很好地探测到;发现太阳方法对于恒星观测也非常有效。我们将谱线叠加与最小二乘反卷积进行统计比较,并证明由于权重的特殊统计性质,两者给出了非常相似的结果。在这种多线方法中,塞曼特征被明确地探测到。我们可以预期,磁场探测在弱场近似之外也是可靠的。当光谱分辨率足够高时,可以探测到太阳型恒星光谱中的线偏振。

关键词

引用

@article{arxiv.0906.4226,
  title  = {Multiline Zeeman Signatures Through Line Addition},
  author = {M. Semel and J. C. Ramirez Velez and M. J. Martinez Gonzalez and A. Asensio Ramos and M. J. Stift and A. Lopez Ariste and F. Leone},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0906.4226},
  year   = {2015}
}

备注

8 pages, accepted for publication in A&A