导电原子力显微镜中的莫尔条纹
材料科学
2023-05-03 v1
摘要
莫尔物理在功能材料表征和物理特性工程（从应变驱动的输运现象到超导）中起着重要作用。在此，我们报道了在模型铁电体 Er(Mn,Ti)O 上获得的导电原子力显微镜（cAFM）扫描中观察到的莫尔条纹。通过对关键实验参数（如扫描角和像素密度）对出现的莫尔条纹的影响进行系统研究，我们证明所观察到的条纹源于所施加的光栅扫描与样品本征特性的叠加，从而将测得的电导调制归类为扫描莫尔效应。我们的发现对于利用 cAFM 研究莫尔工程材料中的局域输运现象十分重要，为区分外在与本征莫尔效应提供了通用准则。此外，该实验提供了一种可能的途径，通过更长程的莫尔图案探测空间分辨率极限处的电导变化，从而提升灵敏度、推展局域输运测量的分辨率极限。
引用
@article{arxiv.2302.01671,
title = {Moir\'e Fringes in Conductive Atomic Force Microscopy},
author = {L. Richarz and J. He and U. Ludacka and E. Bourret and Z. Yan and A. T. J. van Helvoort and D. Meier},
journal= {arXiv preprint arXiv:2302.01671},
year = {2023}
}