La2/3Sr1/3MnO3 薄膜的调制光反射测量
材料科学
2009-11-11 v1
摘要
将调制光反射 (MOR) 测量技术应用于巨磁阻材料，特别是 La2/3Sr1/3MnO3 (LSMO) 薄膜。该无接触测量方案前景广阔，适用于从材料表征到新的器件（如磁性记录介质的读头）等众多应用。对宽度为 100 微米、长度为 400 微米的 LSMO 薄膜进行加工后提供了薄膜均匀性的初步信息。随后在 240~400 K 范围内改变温度，即经过铁磁--paramagnetic 相变。观察到 MOR 信号随温度变化与电阻率导数（相对值）之间存在明确的关联，直至柯里温度。该关联是 MOR 技术的基本特征，其机制在 LSMO 案例中得到探讨。在 Drude 模型框架下，在某些条件下，测得的 MOR 信号变化与电荷载浓度变化相关。
关键词
引用
@article{arxiv.cond-mat/0510475,
title = {Modulated optical reflectance measurements on La2/3Sr1/3MnO3 thin films},
author = {Laurence Mechin and Stephane Flament and Andy Perry and Darryl P. Almond and Radoslav A. Chakalov},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0510475},
year = {2009}
}
备注
29 pages, accepted for publication in J. Appl. Phys