Swift-XRT CCD相机光谱响应建模：在轨标定的经验
天体物理学
2009-11-13 v1
摘要
（节选）我们表明，XRT光谱响应标定因光子计数（PC）模式和窗口定时（WT）模式中的各种能量偏移而变得复杂，这些偏移与CCD在轨运行方式有关（观测期间温度变化、受阳光照射地球的光学污染以及电荷转移效率降低）。我们描述了如何在地面处理软件中校正这些影响。我们表明，自发射以来，通过在无法使用物理描述时在代码中引入经验校正，低能响应、吸收源光谱中的重分布以及线轮廓建模得到了显著改善。我们注意到，CTI的增加在2006年6月（即发射后14个月）变得明显，但由于大电荷陷阱（即硅晶体中的缺陷）导致的光谱性能更严重退化（线展宽和低能响应变化）的证据在2007年3月之后变得更加显著。我们描述了处理光谱响应中这些变化的努力。最后，我们表明，2007年8月30日指令将衬底电压从0V增加到6V减少了暗电流，使得能够在更高的CCD温度（高达-50C）下收集有用的科学数据。我们还简要描述了在此新电压下重新标定XRT响应文件的计划。
引用
@article{arxiv.0811.4246,
title = {Modelling the spectral response of the Swift-XRT CCD camera: Experience learnt from in-flight calibration},
author = {O. Godet and A. P. Beardmore and A. F. Abbey and J. P. Osborne and G. Cusumano and C. Pagani and M. Capalbi and M. Perri and K. L. Page and D. N. Burrows and S. Campana and J. E. Hill and J. A. Kennea and A. Moretti},
journal= {arXiv preprint arXiv:0811.4246},
year = {2009}
}
备注
27 pages, 29 figures (many in colour), accepted for publication in A&A