ASDEX Upgrade 与 JET 中氩触发破裂期间逃逸电子动力学建模
等离子体物理
2021-07-01 v2
摘要
托卡马克等离子体中的破裂可能导致逃逸电子的产生,其有可能损坏面向等离子体的部件。加深对逃逸电子产生过程的理解需要对实验进行解释性建模。本工作中,我们模拟了 ASDEX Upgrade 和 JET 托卡马克中的八次放电,其中注入氩气以触发破裂。我们采用具备通过热尾、Dreicer 和雪崩机制建模逃逸电子产生以及逃逸电子损失的流体建模框架。利用基于实验的等离子体电流、电子温度和密度初值,我们可在对温度演化和注入氩在等离子体中同化过程的合理假设下复现等离子体电流演化。在 ASDEX Upgrade 和 JET 中所建模拟放电的假设与结果相似,表明所实现的模型适用于不同尺寸的装置,这对未来更大装置的建模十分重要。对于初始温度相对较高的 ASDEX Upgrade 模拟放电,为复现所测电流演化,我们不得不假设很大一部分热尾逃逸电子发生了损失。
引用
@article{arxiv.2101.02575,
title = {Modelling of runaway electron dynamics during argon-induced disruptions in ASDEX Upgrade and JET},
author = {K. Insulander Björk and O. Vallhagen and G. Papp and C. Reux and O. Embreus and E. Rachlew and T. Fülöp and the ASDEX Upgrade Team and JET contributors and the EUROfusion MST1 Team},
journal= {arXiv preprint arXiv:2101.02575},
year = {2021}
}
备注
17 pages, 7 figures