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缓解粒子束显微镜中的束流变化

图像与视频处理 2021-06-10 v1 仪器与探测器

摘要

粒子束显微镜使用扫描的带电粒子束来创建样本图像,当该束流电流随时间变化时,图像重建质量会下降。传统的重建方法和时间分辨传感都未考虑束流电流变化,但通过灵敏度分析,我的项目表明当束流电流变化显著时,时间分辨传感在图像重建质量(具体而言为均方误差(MSE))方面相较传统方法有显著改善。为了更主动地对抗这种未知时变束流电流的影响,我的项目进一步专注于设计一种利用时间分辨传感的算法,以在存在束流电流变化的情况下获得更好的图像重建质量。该算法通过同时估计未知束流电流变化与底层图像来工作,提供了一种相较于更传统方法的替代方案,后者利用图像内容的统计假设而不显式估计束流电流。利用由束流电流变化引起的超额MSE这一概念,该算法平均提供了7倍的改善,这可能在未来带来更廉价的设备。除改进图像估计外,该算法还提供了束流电流的新颖估计,潜在地为制造与加工过程提供更多控制。

关键词

引用

@article{arxiv.2106.04686,
  title  = {Mitigating Current Variation in Particle Beam Microscopy},
  author = {Luisa Watkins},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2106.04686},
  year   = {2021}
}

备注

Senior Honors Thesis in Electrical & Computer Engineering, Boston University