基于电流关联性构建的最小纠缠见证
介观与纳米尺度物理
2017-01-25 v1 量子物理
摘要
尽管付出了巨大的努力，但对固体导体中移动电子纠缠的明确证明仍然缺乏。我们在理论上考察了一种通用的entangler-detector setup，结果表明，仅需两次电流交叉关联测量即可构建出两个飞行电子qubit之间纠缠的见证，且在任意非零探测器效率和非共线偏振向量下均可实现。我们发现，除最大纠缠态外，所有纠缠纯态都可以通过仅两次测量检测，唯有最大纠缠态需要三次测量。此外，还提出了用于最优纠缠见证的探测器设置。
引用
@article{arxiv.1608.05547,
title = {Minimal Entanglement Witness From Electrical Current Correlations},
author = {F. Brange and O. Malkoc and P. Samuelsson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1608.05547},
year = {2017}
}
备注
5 pages, 3 figs