超导体的微波残余表面电阻

两种不同模型均能很好地解释超导腔体微波残余表面电阻的测量温度和频率依赖性。在阐述声子生成模型时，Passow 声称 Rabinowitz 的fluxoid 功率损耗模型无法拟合实验数据，而他的模型则可以。事实上，这两种模型在温度和频率依赖性上基本相同。此外，Passow 的声子生成模型无法解释其对样品制备细节和历史敏感性的观察，而fluxoid 模型则可以。