低温冷却导体中的微波损耗降低
天体物理仪器与方法
2015-09-18 v1 材料科学
摘要
本文对一些常用于接收机输入电路的导体在室温和 4.2 K 下的微波衰减进行了测量。冷却后损耗显著降低，特别是对于铜和镀金，两者的损耗均降低至原来的三分之一。用苯并三唑钝化的铜表现出与未钝化时相同的损耗。利用经典趋肤效应公式从测量中推导出的室温与 4.2 K 之间的剩余电阻率比，小于测得的直流值，其减小程度与低温下极端反常趋肤效应区内的传导相一致。测量是在 5-10 GHz 范围内进行的。测试的材料包括：1100-T6 和 6061-O 铝合金、C101 铜、经苯并三唑处理的 C101 铜，以及镀有电铸铜、Pur-A-Gold 125-Au 软金和 BDT200 亮金的黄铜。
引用
@article{arxiv.1509.05273,
title = {Microwave Loss Reduction in Cryogenically Cooled Conductors},
author = {R. Finger and A. R. Kerr},
journal= {arXiv preprint arXiv:1509.05273},
year = {2015}
}
备注
9 pages