测量原子核弱电荷密度的表面厚度

Brendan Reed; Z. Jaffe; C. J. Horowitz; C. Sfienti

doi:10.1103/PhysRevC.102.064308

测量原子核弱电荷密度的表面厚度

核理论 2020-12-15 v1 核实验

作者: Brendan Reed , Z. Jaffe , C. J. Horowitz , C. Sfienti

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摘要

当前的 PREX-II 和 CREX 实验正在测量 $^{208}$ Pb 和 $^{48}$ Ca 弱电荷密度的均方根半径。我们讨论了一种新的宇称破坏电子散射实验测量重原子核弱电荷密度表面厚度的可行性。一旦 PREX-II 和 CREX 约束了弱半径，在 $^{208}$ Pb 约 0.76 fm $^{-1}$ 或 $^{48}$ Ca 约 1.28 fm $^{-1}$ 的动量转移下进行的额外宇称破坏测量即可确定表面厚度。

关键词

弱电荷密度表面厚度宇称破坏电子散射 PREX-II CREX 均方根半径重原子核

引用

@article{arxiv.2009.06664,
  title  = {Measuring the surface thickness of the weak charge density of nuclei},
  author = {Brendan Reed and Z. Jaffe and C. J. Horowitz and C. Sfienti},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2009.06664},
  year   = {2020}
}

备注

8 pages, 10 figures

测量原子核弱电荷密度的表面厚度

摘要

关键词

引用

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