利用 X 射线背景观测测量中间红移处密度涨落功率谱
天体物理学
2009-10-30 v2
摘要
关于外星球 X 射线背景 (XRB) 在约一度角尺度上的强度测量精度,其空间涨落主要由源混淆噪声引起。负责这些涨落的 X 射线源计数水平 soon 将被新任务准确测量,随后即可检测由更暗更远源所产生的 XRB 主体涨落。我们展示,在 0.2% 的水平上测量这些超出涨落是可行的,这比现有的上限提高了一个数量级。结合 X 射线体积辐射在宇宙中的红移演化,可用于在宇宙波数 0.01-0.1 h/Mpc 处,以 z=1-2 的红移测量密度涨落功率谱,其灵敏度优于大尺度结构模型的预测。一种相对简单实用的 X 射线实验,通过大面积比例计数器配以 0.5-2 平方度准直视场,扫描整个天空数次,即可在波数接近其预期峰值处确定密度涨落功率谱,其精度优于 10%。
引用
@article{arxiv.astro-ph/9705180,
title = {Measuring the power spectrum of density fluctuations at intermediate redshift with X-ray background observations},
author = {X. Barcons and A. C. Fabian and F. J. Carrera},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/9705180},
year = {2009}
}
备注
Minor changes made. Accepted in MNRAS