测量高红移类星体的黑洞质量

本文提出一种新方法，用于从光学光谱确定高红移类星体的黑洞质量。该新方法利用低电离MgII发射线的全宽半高制（FWHM），并结合广义线区（BLR）半径与3000埃尔弗制造光度的相关性。利用档案UV光谱数据，发现BLR半径与3000埃尔弗制造光度的相关性优于已建立的与5100埃尔弗制造光度的相关性。进一步发现，BLR半径与3000埃尔弗制造光度的相关性符合$R_{BLR} \propto lambda L_{lambda}^{0.5}$的形式，符合恒定电离参数的预期。基于以重访联合映射确定的宽线半径样本，证实MgII与H beta的FWHM符合严格的1:1关系，若H beta与MgII均来自同一距离的中心加 ionization源发射，则此关系成立。最终的核流黑洞质量估计器基于红外可观测量，能在1个sigma内以约2.5倍的因数复现基于重访联合映射的黑洞质量测量值。最后，本文表明该新UV核流黑洞质量估计器可应用于从z~0.25到类星体活动达到顶峰时z~2.5的范围，通过光学光谱alone即可准确估计黑洞质量。