利用 X 射线标度法测量超亮 X 射线源中的黑洞质量
高能天体物理现象
2017-10-25 v1
摘要
在我们近期的工作中，我们证明了一种最初为银河系黑洞引入的新型 X 射线标度法，可以可靠地推广用于估计以中等到高等吸积率吸积的超大质量黑洞的质量。在此，我们将这种 X 射线标度法应用于超亮 X 射线源（ULXs），以约束其黑洞质量。利用 49 个具有多次 XMM-牛顿卫星观测数据的 ULXs，我们推断 ULXs 既包含恒星级质量黑洞，也包含中等质量黑洞。我们样本中的大多数源似乎与高吸积率的大质量恒星级黑洞（黑洞质量约 100 倍太阳质量）的假设一致。我们的结果与通过其他方法（包括与模型无关的变异性方法）获得的黑洞质量值总体一致。这表明 X 射线标度法是一种真正的与尺度无关的方法，可应用于所有以中高等吸积率吸积的黑洞系统。
引用
@article{arxiv.1708.05620,
title = {Measuring the black hole mass in Ultraluminous X-ray Sources with the X-ray Scaling Method},
author = {I. Jang and M. Gliozzi and S. Satyapal and L. Titarchuk},
journal= {arXiv preprint arXiv:1708.05620},
year = {2017}
}
备注
14 pages, 10 figures