測量大氣對差分星測基準的影響：�用於寬場 CCD 框的簡單方法

使用一組短曝光、引導式 CCD 框，用於測量大氣對差分星測基準觀測所添加的雜訊。在持續兩年的 KPNO 與 CTIO 0.9 吋望遠鏡觀測資料中，發現大量夜間變化與視差有相關性。對原始 $x,y$ 數據進行線性變換後，大氣添加的雜訊 RMS 為 3~7 毫秒，正規化於 100 秒曝光時間及視場 20 弧分鐘的天頂附近。此外，發現額外的近常數雜訊（基準級）在 KPNO 為 8.5 毫秒 = 0.012 像素，CTIO 為 6.0 毫秒 = 0.015 像素。這表明，基於引導式 CCD 框的地面基礎全天星測基準調查，較可能受限於基準級雜訊而非大氣，若條件良好，可達到 10 毫秒以上的精度。