在LHC单顶夸克产生中测量有效电弱耦合

我们在有效电弱拉格朗日量的框架下研究了LHC上单顶夸克产生的机制，分析了不同观测量对参数化标准模型之外新物理的有效耦合强度的灵敏度。区分左手和右手有效耦合的相关观测量实际上涉及顶夸克自旋的测量，而这只能通过测量其衰变产物的角分布来间接实现。我们表明，有效右手耦合的存在意味着顶夸克不处于纯自旋态。我们找到了一个独特的自旋基，它可以将顶夸克衰变产物的角分布与极化顶夸克微分截面联系起来。我们给出了相关微扰子过程的极化微分截面的完整解析表达式，其中包含了普遍的有效耦合。底夸克的质量被保留，事实证明它比天真预期的更为重要。最后，我们分析了与通过有效耦合测量新物理相关的总截面的不同方面。上述分析也直接适用于反顶夸克的产生。