测量诱导的状态转变于感感式串联 Transmon 中
量子物理
2026-03-13 v1
摘要
快速而高保真的量子比特测量在量子纠错中发挥关键作用。在超导量子比特中，测量通常通过在读取共振器上施加共振微波驱动来实现，该读取共振器与量子比特呈色散耦合。较短的测量时间需要更多的光子占据于读取共振器，这最终会导致量子比特发生测量诱导的状态转变 (MIST)。MIST 尤其棘手，因为这些转变常常将量子比特置于高能态，并且 MIST 在读取参数空间中的位置会随量子偏置电荷而漂移。在 Transmon 量子比特中，这些漂移可通过使用极大的量子比特-共振器去信比或专用的偏置电荷来避免。本文采用另一种方法，在 Transmon 上串联一个感性电感以消除偏置电荷依赖性并稳定 MIST。我们对几种不同感性式串联 Transmon 中的 MIST进行了实验表征，结果与量子模型和半经典模型一致。这些结果也适用于其他感性式串联量子比特。
引用
@article{arxiv.2603.12114,
title = {Measurement-Induced State transitions in Inductively-Shunted Transmons},
author = {Nicholas Zobrist and John Mark Kreikebaum and Mostafa Khezri and Sergei V. Isakov and Brian J. Lester and Yaxing Zhang and Agustin Di Paolo and Daniel Sank and W. Clarke Smith},
journal= {arXiv preprint arXiv:2603.12114},
year = {2026}
}