测量偏倚：一种结构视角
统计方法学
2020-12-24 v2
摘要
测量偏倚（measurement bias, MB）的因果结构仍存在争议。借助有向无环图（Directed Acyclic Graph, DAG），本文提出一种用于测量单个单例变量的新结构，其测量偏倚源于不完善的类 I/O 设备测量系统的选择。然而，对于效应估计，测量偏倚的额外来源来自所测暴露与所测结局之间的任何冗余关联。对于共同结局，误分类将是双向差异的；对于因果关系，是单向差异的；对于所测暴露与所测结局之间的共同原因或零效应，是非差异的。所测暴露实际上可影响所测结局，或反之。反向因果是在测量层面定义的概念。我们的新 DAG 厘清了测量偏倚的结构与机制。
引用
@article{arxiv.2012.10980,
title = {Measurement bias: a structural perspective},
author = {Yijie Li and Wei Fan and Miao Zhang and Lili Liu and Jiangbo Bao and Yingjie Zheng},
journal= {arXiv preprint arXiv:2012.10980},
year = {2020}
}