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利用多态涂抹技术计算重轻介子的质量与衰变常数

高能物理 - 格点 2009-10-22 v1

作者: Anthony Duncan , Estia Eichten , Jonathan M. Flynn , Brian R. Hill , Hank Thacker

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摘要

我们给出了f_B以及低能重轻介子质量的计算结果。计算在淬火近似下进行，使用了由无自旋相对论夸克模型哈密顿量生成的多态涂抹函数。Beta值范围从5.7到6.3，并且在每个值处计算了对应于π介子质量低至300 MeV的轻夸克质量。我们使用1P--1S粲偶素劈裂来设定整体标度。

关键词

重轻介子衰变常数多态涂抹淬火近似格点QCD 粲偶素劈裂

引用

@article{arxiv.hep-lat/9312046,
  title  = {Masses and Decay Constants of Heavy-Light Mesons Using the Multistate Smearing Technique},
  author = {Anthony Duncan and Estia Eichten and Jonathan M. Flynn and Brian R. Hill and Hank Thacker},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-lat/9312046},
  year   = {2009}
}

备注

9 pages, 13 figures, and 5 tables as a single 193K compressed and uuencoded Postscript file, FERMILAB--CONF--93/376-T