倾斜效应的磁光证据：耦合 Weyl 带的研究
材料科学
2025-02-24 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
理论已揭示拓扑 Weyl 半导体（WSMs）中倾斜效应的普遍性及其对材料物理性质的影响。然而，倾斜 Weyl 带的实验识别仍鲜有探索。本文通过结合磁红外光学研究和四能级耦合 Weyl 点模型，我们在 established 的 WSM 钼磷化物中报告了倾斜效应的光谱证据。具体而言，我们观察到具有丰富特征的洛伦兹能级跃迁，这些特征在耦合倾斜 Weyl 点的模型中得到良好再现。我们的分析表明，倾斜效应放宽了选择规则，导致一些在非倾斜情况下本来会被禁止的跃迁。此外，我们观察到具有平坦和负磁场色散的非常规间带跃迁，突显了 Weyl 点之间耦合的重要性。我们的结果不仅强调了倾斜效应在 WSM 光学响应中的重要性，也表明磁光学是探测 WSM 电子能带中倾斜效应的有效工具。
引用
@article{arxiv.2411.17081,
title = {Magneto-optical evidence of tilting effect in coupled Weyl bands},
author = {Seongphill Moon and Yuxuan Jiang and Jennifer Neu and Theo Siegrist and Mykhaylo Ozerov and Zhigang Jiang and Dmitry Smirnov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2411.17081},
year = {2025}
}
备注
This is the initial draft