MnSi 在高压下的磁化强度
强关联电子
2009-10-31 v1
摘要
我们在高达 10.2 kbar 的高压和高达 9 特斯拉的高磁场下测量了弱螺旋磁巡游化合物 MnSi 的磁化强度 M(H)。我们在自旋涨落的自洽重正化理论 (SCR) 框架内解释了饱和磁化强度 和居里温度 在压力下的同时降低。通过分析所谓的 Arrot 图 ( 对 ) 以及 和 各自的体积依赖性，我们估计了当系统接近其临界压力 =15 kbar（对应于 T=0 时长程磁有序的消失）时，特征自旋涨落温度 和 的演变。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9802238,
title = {Magnetization under High Pressure in MnSi},
author = {C. Thessieu and K. Kamishima and T. Goto and G. Lapertot},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9802238},
year = {2009}
}
备注
12 pages, 5 figures. Submitted to Phys. Rev. B