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低温高迁移率硅 MOSFET 中磁场驱动的扩展与局域电子态间重分布

强关联电子 2021-07-21 v1

摘要

在低温高迁移率 Si MOSFET 的振荡电子输运研究中,我们观测到弱面内磁场下的两个关联效应:重整化磁化率 χ(H)\chi^*(H) 的陡降与可动载流子浓度 n(H)n(H) 的升高。我们提出一种磁场驱动的扩展态与局域态间重分布的现象学模型,定性解释了上述两效应。我们认为该重分布主要由能量接近费米能 EFE_F、与多数费米液体态共存的的大自旋局域态的磁化引起。我们的发现还解决了弱磁场(HkBT/μBH \sim k_BT/\mu_B)与强磁场(HEF/gμBH \sim E_F/g\mu_B)下 χ\chi^* 实验数据间长期存在的分歧。

关键词

引用

@article{arxiv.2107.01411,
  title  = {Magnetic-field-driven redistribution between extended and localized electronic states in high-mobility Si MOSFETs at low temperatures},
  author = {V. M. Pudalov and M. E. Gershenson},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2107.01411},
  year   = {2021}
}

备注

11 pages, 8 figures